Optical characteristics of strontium titanate films obtained by the sol–gel method NI Stas’ kov, AB Sotskii, LI Sotskaya, IV Ivashkevich, AI Kulak, ... Optics and Spectroscopy 125, 492-498, 2018 | 6 | 2018 |
Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, АИ Кулак, ... Физико-технический институт им. АФ Иоффе Российской академии наук, 2018 | 5 | 2018 |
Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень Проблемы физики, математики и техники, 18-24, 2013 | 5 | 2013 |
Эллипсометрия переходных слоев полупроводник – диэлектрик КНА Стаськов Н.И., Ивашкевич И.В. Проблемы физики, математики и техники, С. 18-24., 2013 | 5 | 2013 |
Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, АБ Сотский, ЛИ Сотская Проблемы физики, математики и техники, 26-30, 2012 | 5 | 2012 |
Оптические характеристики естественного поверхностного слоя на кремниевой подложке НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень, ... Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины, 2006 | 5 | 2006 |
Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов Магілёўскі дзяржаўны ўніверсітэт імя АА Куляшова, 2004 | 5 | 2004 |
Спектральная эллипсометрия клиновидных полупроводниковых пленок на кремниевых подложках ИВ Ивашкевич, ВВ Филиппов Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины, 2018 | 3 | 2018 |
Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводник НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич Могилевский государственный университет имени АА Кулешова, 2011 | 3 | 2011 |
Применение дисперсионных соотношений Крамерса-Кронига для решения обратной задачи спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук …, 2007 | 3 | 2007 |
Спектры оптических характеристик титана с бинарным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, АН Петлицкий Оптика и спектроскопия 112 (6), 952-952, 2012 | 2 | 2012 |
Структура и электронное строение поверхностных слоев пластин кремния после обработки в низкоэнергетической плазме водорода и аргона СЮ Турищев, ВА Терехов, ЕВ Паринова, АВ Мазаник, ОВ Королик, ... Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 15-20, 2011 | 2 | 2011 |
Определение параметров полупроводниковых подложек с учетом естественных поверхностных слоев методом спектральной эллипсометрии ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, АБ Сотский БГУ, 2010 | 2 | 2010 |
IR spectra of the optical constants of an industrial high-pressure polyethylene film NI Stas’ kov, IV Ivashkevich Optics and Spectroscopy 104, 846-850, 2008 | 2 | 2008 |
Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Состская, ИВ Ивашкевич | 2 | 2007 |
Спектральная эллипсометрия неоднородных полупроводниковых пленок ИВ Ивашкевич, Е Третьяк Веснік Магілёўскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя АА Куляшова. Серыя B …, 2020 | 1 | 2020 |
Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии ИВ Ивашкевич, ЕГ Гарай, ЕВ Третьяк Могилевский государственный университет имени АА Кулешова, 2019 | 1 | 2019 |
The account of influence of the natural surface layer under investigation of silicon plates by the method of spectral ellipsometry NI Stas kov, IV Ivashkevich, AB Sotski, LI Sotskaya Problemy Fiziki, Matematiki i Tekhniki (Problems of Physics, Mathematics and …, 2012 | 1 | 2012 |
Structure of near-surface layer of Cz Si wafers subjected to low-temperature low-energy ion-beam treatment. TS Fedotov Alexander, Ivashkevich Inna, Kobeleva Svetlana, Korolik Olga ... Phys. Status Solidi С 8 (№ 3), Р. 739 – 742, 2011 | 1 | 2011 |
Многоугловая эллипсометрия слоя аморфного кремния НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич Оптика неоднородных структур-2007, 100-103, 2007 | 1 | 2007 |